PPM`2008 Podstawowe Problemy Metrologii
Menu
Strona główna
Aktualności
Komitety
Patronat
Tematyka Konferencji
Materiały konferencyjne
Kontakt
Galeria
Aktualne konferencje PAK
Archiwum konferencji organizowanych przez PAK
Informacje
Aby zapisać się na aktualną konferencję musisz być zarejestrowany.
Jeśli nie posiadasz konta zarejestruj się
Zaloguj
Przypomnij hasło
Moje konto
Rejestracja
Miesięcznik PAK
Aktualności
  • Podsumowanie konferencji (16-06-2008 10:28:33)

    W dniach 11 – 14. maja 2008 roku odbyła się w Suchej Beskidzkiej VI Konferencja Naukowo-Techniczna pt. „Podstawowe Problemy Metrologii”, której głównym organizatorem był Instytut Metrologii, Elektroniki i Automatyki Politechniki Śląskiej w Gliwicach, a współorganizatorem było Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich, reprezentowane przez redakcję miesięcznika Pomiary Automatyka Kontrola. Konferencja miała na celu wymianę poglądów, rozszerzenie wiedzy  i rozwój współpracy między środowiskiem metrologów nauczających i metrologów praktyków, skupionych w krajowej służbie miar oraz w laboratoriach akredytowanych.
    Konferencja PPM’08 miała poparcie takich instytucji jak Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej PAN, Komisja Metrologii Oddziału PAN w Katowicach, Wojskowy Nadzór Metrologiczny oraz Polska Sekcja IEEE. W konferencji uczestniczyli m.in. dyrektorzy Okręgowych Urzędów Miar, a także Dyrektor Wojskowego Nadzoru Metrologicznego, płk. Stanisław Dąbrowski. Wśród ponad 90 uczestników konferencji licznie było reprezentowane środowisko naukowe oraz personel laboratoriów akredytowanych lub przygotowujących się do akredytacji.
    Konferencja koncentrowała się na zagadnieniach podstawowych, wspólnych dla wszystkich rodzajów pomiarów, ale były także omawiane aktualne zagadnienia wzorcowania narzędzi pomiarowych, zwłaszcza o małej niedokładności, oraz zagadnienia związane z doskonaleniem laboratoriów badawczych i wzorcujących oraz nowych osiągnięć nauki znajdujących zastosowanie w budowie narzędzi pomiarowych. Tematyka VI konferencji PPM obejmowała zagadnienia właściwego opisu niedokładności pomiarów, zarówno za pomocą błędów jak i niepewności, zagadnienia teorii, konstrukcji i badania systemów pomiarowych, problematyki wzorców i jednostek miar, bezprzewodowego przesyłu informacji, techniki pomiarów dokładnych oraz przetwarzania sygnałów pomiarowych, jakie jest podstawą działania wielu współczesnych przyrządów pomiarowych.
    Na sesji otwarcia zostały przedstawione 4 referaty programowe wprowadzające, opracowane przez specjalistów o dużym doświadczeniu i autorytecie wśród metrologów.
    Dr Włodzimierz Lewandowski, który jest Głównym Fizykiem w Bureau International des Poids et Mesures (BIPM) w Paryżu, odpowiedzialnym za skalę czasu, przedstawił obszerny referat o ewolucji współczesnej metrologii oraz drugi, o organizacji służby miar w Egipcie, opracowany na podstawie doświadczeń własnych z wdrażania tej struktury.
    Prof. dr hab. inż. Stefan Kubisa z Pol. Szczecińskiej przedstawił poglądy na celowość uwzględniania korelacji w szacowaniu niepewności wyników pomiarów.
    Pan mgr inż. Ryszard Malesa, kierownik Działu Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących w Polskim Centrum Akredytacji przedstawił zagadnienia audytu wewnętrznego obszaru technicznego w akredytowanych laboratoriach wzorcujących.
    Referat doc. dr Andrzeja Marcyniuka z Pol. Śląskiej dotyczył granicznej dokładności mierzenia, a jego teza: „granicą dokładności mierzenia jest dokładność użytego wzorca” wprost wskazuje ważność doskonalenia wzorców, co jest jednym z głównych tematów konferencji.

  • Archiwum wiadomości (04-06-2008 12:17:57)
powrót
© netkoncept.com
Na górę strony.
ostatnia modyfikacja: 15-07-2008 11:58:02